El microscopio marca FEI (actualmente Thermofisher) modelo Quanta FEG250 es un microscopio electrónico de barrido con cátodo de emisión de campo (FESEM) de alta resolución. Éste tiene incorporado un detector de rayos X de energía dispersiva (EDS), SSD modelo Octane Pro, para obtener información de composición elemental de la superficie de la muestra. El FEI Quanta FEG250 es capaz de ofrecer información morfológica y de composición elemental de la superficie de la muestra con una mayor resolución y un mayor rango de energía que un SEM convencional.
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FESEM FEI Quanta FEG250"
Electrones secundarios (SE)
Alto Vacío, Bajo Vacío y Modo Ambiental (ESEM)
Electrones Retrodispersados (BSE)
Electrones Transmitidos (STEM)
Espectro Elemental de Rayos-X (EDS)
Mapeo Elemental (Mapping EDS)
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Quanta FEG"
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El FlexPS-CIENUC, marca SPECS (Berlín, Alemania) es un sistema de análisis espectroscópico de fotoelectrones de rayos-X que permite obtener información superficial (pocos nanómetros) de la composición química y de estados de oxidación de una muestra. Está equipado con una fuente de rayos-X de doble ánodo XR 50 (Al/Ag), un monocromador FOCUS 500 y un analizador hemisférico Phoibos 150.
XPS es una técnica de ultra alto vacío (UHV), por lo que se aplican las restricciones comunes a estas condiciones.
Este equipo fue adquirido gracias al financiamiento de FONDEQUIP EQM 170087.
Es posible el estudio de diversos materiales, como polímeros, óxidos, aleaciones metálicas,
semiconductores, vidrios, cerámicas y bio-materiales, entre otros.
Las muestras a analizar pueden presentarse en polvo, depósito, lámina o como un trozo de material.
Fuentes de rayos-X XR50M con doble ánodo.
Ánodo de Ag con radiación Kα en 2984.30 eV y
ánodo de Al con radiación Lα en 1486.71 eV.
Monocromador de rayos-X FOCUS 500.
Analizador Phoibos 150 con detector 1D-DLD.
Cañón de inundación de electrones FG 15/40 para
compensación de carga.
Sistema de vacío de bomba iónica, sublimación y
turbomolecular.
Precámara para montaje de muestras.
Presión precámara: < 1 x 10-8 mbar
Presión cámara de análisis: ~2 x 10-10 mbar
Portamuestras con 4 grados de libertad (X,Y,Z,Tilt).
Ángulo incidencia rayos-X: 54,7°. Ángulo de detección 90°.
Ángulo de inclinación muestra: 0° - 75°.
Cámara de vacío de acero inoxidable.
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El CIEN-UC, gracias a la relación entre las facultades de Ingeniería, Física y Química; cuenta con una variedad de equipos de investigación que le permiten desarrollar investigaciones en diversos campos relacionados con la Nanotecnología y la Ciencia de Materiales.
Algunos de estos equipos son:
Osciloscopio
Fuentes de poder
Multímetros
Estación de prueba de semiconductores (probe station)
Analizador de parámetros de semiconductores
Analizador de redes vectoriales
Microscopio petrográficos (polarizador) de luz transmitida
Microscopio electrónico de barrio (SEM) de alta resolución con detectores SE, BSE, CL y EDS
Cluster computacional con capacidad de 64 núcleos
Mini-etalómetro microAeth AE51
Medidor continuo de concentración de partículas Dustrack 8530II
Medidor MetOne Particulate Profiler 212-1
Muestreador electrostático EspNano100
Muestreador Partisol2000i (exteriores)
Muestreadores TAS (interiores)
Evaporador por haz de electrones
Sistema de medidas de transporte eléctrico a bajas temperaturas
Simulador solar
Espectrómetro y lámpara UV-VIS-NIR
Reactor de deposición química de vapor (CVD)
Circuito ferroléctrico RT66B-Radiant Tech
