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Estudio de estructuras magnéticas de interés tecnológico

La industria de la grabación en medios magnéticos ha adquirido una enorme magnitud comercial en los últimos años; baste decir que a nivel mundial se gastan US$40 000 millones/año, vale decir, un promedio de US$10 por habitante del planeta. Durante los últimos años la creación de nuevos materiales, usando novedosas técnicas de preparación (p.ej. para formar multicapas delgadas de distintos elementos) ha permitido un impresionante desarrollo de las técnicas de grabación de información en medios magnéticos. Con ello se ha logrado aumentar la densidad de información que se puede grabar a 1 Gigabit / cm2.

La miniaturización está relacionada con problemas tecnológicos nuevos y fascinantes: la necesidad de reducir el tamaño e incrementar la velocidad de los dispositivos electrónicos. Luego el papel de la rugosidad superficial y las imperfecciones, determinados a su vez por propiedades estructurales, es un problema particularmente relevante al reducirse las dimensiones. Se propone estudiar las propiedades magnéticas de diferentes estructuras cono función de su tamaño, precisamente en la zona en que los efectos cuánticos son importantes. En efecto, en multicapas ferromagnéticas metálicas o de óxidos es posible medir el acoplamiento entre capas magnéticas separadas por espaciadores paramagnéticos o aisladores a través de la determinación de su magnetoresistencia. Adicionalmente dichas mediciones pueden relacionarse con parámetros físicos como rugosidad superficial e interfacial, ancho y uniformidad de las terrazas.

En estructuras puramente cuánticas, como puntos y alambres, las microestructuras pueden fabricarse por litografía con haz de electrones. El análisis estructural de las muestras se realiza por difracción de electrones de alta energía (HEED), microscopía AFM-STM en UHV (UCh) y SEM (PUC). La información sobre la estructura magnética se obtiene por mediciones de alta resolución del efecto Kerr magnetoóptico (MOKE) y por AFM en la PUC. El sistema MOKE disponible en la PUC permite detectar magnetización en películas de 2 nm.

La colaboración con el Prof. I.K. Schuller (University of California, San Diego), el Prof. David Lederman (West Virginia University) y los Profs. P. Lievens, K. Temst, Margriet Van Bael (Katholieke Universiteit, Leuven, Bélgica) permite acceder a métodos experimentales complementarios (HEED, UHV-AFM, VSM, XRD) y métodos de preparación de muestras (MBE).

patents/start.txt · Last modified: 2014/06/17 09:33 (external edit)