Microscopia Electronica de Barrido (SEM)
Microscopia de Fuerza Atomica (AFM)
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Microscopia Electronica de Barrido-Secondary Electron Microscope (SEM)
El equipo es LEO VP1400 con detectores de electrones secundarios y retrodispersados. Tiene un espectrometro Oxford para hacer analisis elemental de las muestras por medio de la deteccion de emision de rayos-X carateristicos de los elementos. Imagenes se obtienen con un voltage acelerador de electrones de 25 kV.
Financiamiento: MECESUP PUC0006, 2000-2002. “FORTALECIMIENTO DEL PROGRAMA DE DOCTORADO EN EL AREA DE FISICA EXPERIMENTAL”
Scanning Electron Microscopy (SEM) with Energy Dispersive Spectroscopy (EDS)
LEO VP1400 system equipped with energy dispersive spectroscopy (Oxford). Microscopic images are obtained by operating the SEM at an accelerating voltage of 25 kV and using secondary and back-scattered electrons detectors.
When requesting service, write to acabrera@fis.puc.cl or msoto@fis.puc.cl
sem.txt · Last modified: 2012/12/21 11:21 by admin
